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BladeCam2-XHR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²
Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機 (1460 x 1932) 產(chǎn)品總覽 這款柔性冷卻相機支持多種索尼CCD傳感器，滿足了大多數(shù)科學原始設備制造商和顯微鏡用戶的需求。
FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振） 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡
FS70Z 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 固定光通比50/50 C-mount) （觀察鏡） 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡
BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm 產(chǎn)品總覽 ½“ CMOS 光束分析照相機，超高速USB 3.0，支持190-1605nm，通用型和高像素型可選，采用標準的無邊緣式無窗探測器結構，采用電子快門，最短曝光時間可達40 µs。BladeCam2-HR系列配備功能齊全且可定制的軟件，軟件可免費更新，許可證無需付費，并提供無限制的軟件安裝。
FS70L4-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 C-mount帶開關) (觀察鏡) 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。
可調(diào)焦小光斑光纖準直器 產(chǎn)品應用 ● 激光雷達 ● 干涉測量 ● 共焦顯微鏡 ● 光鑷 ● 細胞術 ● 掃描 ● 直接寫入TDLAS
Cobra-S 800 超高速光譜儀 產(chǎn)品應用 血管造影 測振 實時3D成像 皮膚科 眼前節(jié)成像 亞表面材料檢查
